Experimenten met LC kringen deel 3
<<Naar deel 2
Naar deel 4 >>
Terug naar de index
De volgende stap in de verbetering van de LC kring is het toepassen van
litzedraad met zeer veel kernen.
De volgende spoel is opgebouwd met litze 660x0,04mm (ook wel 660/46 genoemd, 660
is het aantal kernen, 46 is de draaddikte volgens de AWG tabel).
Spoel L9 Draadlengte op de spoel: 14,5 meter en twee aansluitdraden van 0,25m. Totale draadlengte: 15 meter. Binnendiameter spoel: 6cm. Buitendiameter spoel: 16cm (spoelhouder is 20 cm diameter) Aantal windingen: 41 Draad: 660x0,04mm. Materiaal spoelhouder: 3mm schuim PVC. Inductiewaarde: ongeveer 175 uH. |
Er is een keer gemeten met condensator C1b, en met C2.
Meting nr |
LC combinatie | F min kHz |
F max kHz |
Q 600 kHz |
Q 900 kHz |
Q 1200 kHz |
Q 1500 kHz |
17 | L9 C1b Met 1:100 probe |
537 | 2250 | 983 | 765 | 494 | 365 |
18 | L9 C2 Met 1:100 probe |
601 | 2200 | 967 | 606 | 426 | 307 |
Conclusie:
C1b geeft de een hogere Q dan C2, dat is vreemd bij meting nr.
5 en 6 was dat juist andersom.
Spoel L9 heeft een lagere inductie dan b.v spoel 5 (F min ligt hoger) terwijl er
toch een grotere draadlengte is gebruikt. Dit 660x0,04 mm draad geeft blijkbaar
minder inductie dan het 40x0,07mm litzedraad.
De Q van spoel 9 ligt veel hoger dan bij spoelen van 40x0,07mm litzedraad.
Tot nu toe waren alle metingen uitgevoerd met een 1:100 probe tussen de LC
kring en de oscilloscoop.
Deze meetopstelling wordt hier omschreven als
meetopstelling 2.
Het bleek echter dat de testprobe een negatief effect had op de Q factor.
In de volgende metingen wordt er gebruik gemaakt van een zelfgemaakte
FET versterker tussen de LC kring en de oscilloscoop.
Een omschrijving van de meetopstelling vind je hier
als meetopstelling 3.
De zelfde kringen werden nu nogmaals gemeten:
Meting nr |
LC combinatie | F min kHz |
F max kHz |
Q 600 kHz |
Q 900 kHz |
Q 1200 kHz |
Q 1500 kHz |
19 | L9 C1b Met FET versterker |
538 | 2400 | 1077 | 1104 | 846 | 518 |
20 | L9 C2 Met FET versterker |
* | * | 1090 | 918 | 634 | 443 |
Door het toepassen van de FET versterker neemt vooral de Q bij hoge frequenties toe.
Bij het meten aan kringen met een hoge Q factor moet de frequentie van de
signaal generator zeer nauwkeurig ingesteld worden.
Bij de door mij gebruikte sweep signaal generator bleek dat problemen te geven,
waardoor de waarden van de Q factor niet betrouwbaar waren.
Daarom ben ik overgestapt op het gebruik van een DDS generator, hiermee is de
frequentie uiterst nauwkeurig in te stellen.
De meetopstelling vind je hier als meetopstelling 4.
Met deze DDS generator heb ik nogmaals de Q gemeten van de zelfde kringen:
Meting
nr |
LC combinatie | F min kHz |
F max kHz |
Q 600 kHz |
Q 900 kHz |
Q 1200 kHz |
Q 1500 kHz |
21 | L9 C1b Met FET versterker en DDS generator |
539 | 2448 | 967 | 882 | 683 | 583 |
22 | L9 C2 Met FET versterker en DDS generator |
604 | * | 915 (604 kHz) |
756 | 568 | 407 |
De Q is bij meting 21 en 22 over het algemeen lager dan bij meting 19 en 20,
dit komt door een onnauwkeurigheid bij de metingen t/m nr 20.
De metingen 17-18 en 19-20 en 21-22 zijn steeds uitgevoerd met de zelfde
kringen, alleen de gebruikte meetapparatuur was anders.
Meting 21 en 22 geven naar mijn mening het meest nauwkeurige beeld van de Q
factor.
De metingen ervoor waren echter wel nuttig omdat een toe of afname van de Q wel
te bepalen was.